6月30日，，，，，，电子信息工程学院承办金科学术大课堂第16期讲座，，，，，，约请中国科学院盘算手艺所研究员、学位评定委员会副主席、盘算机系统结构国家重点实验室常务副主任李晓维研究员作题为《集成电路全生命周期测试手艺》的讲座，，，，，，电子信息工程学院院长陈正宇主持讲座，，，，，，学院全体西席和部分学生加入了讲座。。。。。。

李晓维研究员从中外星载芯片故障引发的事故引入，，，，，，详细解读了集成电路全生命周期测试对我国航天和国防清静等领域的主要意义，，，，，，并从硅前（pre-silicon）、硅后（post-silicon）和服役期三个阶段划分先容了集成电路芯片的故障检测和优化要领。。。。。。在硅前设计阶段，，，，，，其研究团队提出的笼罩评估要领使故障检测所需周期数减小了两个数目级；；；；；；；硅后阶段，，，，，，结构测试及算法优化极大的缓解了存储器等芯片故障的检测和优化方面的难题；；；；；；；针对集成电路服役时代，，，，，，先容了自检测、自修复以及多核冗余等要领对集成电路举行康健治理。。。。。。

陈正宇体现，，，，，，李晓维研究员的报告从已往到未来、从实践到理论、点面团结、由浅入深地讲述了集成电路全生命周期测试手艺基来源理、典范希望和生长趋势，，，，，，讲座不但给本科生拓展了专业视野，，，，，，更给青年西席指明晰有生长潜力的研究偏向。。。。。。